tem测试主要测什么（看完这篇你就知道了！）

作者：杨超月

透射电镜即透射电子显微镜（英文简称TEM）是使用最为广泛的一类电镜。TEM可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。

一、想了解TEM测试主要测什么？那我们先要了解一下TEM的工作原理。

工作原理：利用电子射线（或称电子束也称电子波）穿透样品，而后经多级电子放大后成像于荧光屏。

简单的说，

拿SEM做对比：扫描电镜观察的是样品表面的形态。

TEM：透射电镜观察的是样品内部精细结构形态的。

主要优点：分辨率高，可用来观察组织和细胞内部的超微结构以及微生物和生物大分子的全貌。

根据加速电压的大小分为以下3种：

1）一般TEM。最常用的是100KV电镜。这种电镜分辨率高（点0.3nm，晶格0.14nm），但穿透本领小，观察样品必须很薄，约为30～100nm，如细胞和组织的超薄切片、复型膜和负染样品等。相当普及。我校有这样的设备。

2）高压TEM。目前常用的是200KV电镜。这种电镜对样品的穿透本领约为100KV电镜的1.6倍，可以在观察较厚样品时获得很好的分辨本领，从而可以对细胞结构进行三维观察。

3）超高压TEM。目前已有500KV、1000KV和3000KV的超高压TEM。这类电镜具有穿透本领强、辐射损伤小、可以配备环境样品室及进行各种动态观察等优点，分辨率也已达到或超过100KV电镜的水平。在超高压电镜上附加充气样品室，使人们可以观察活细胞内的超微结构动态变化。

二、 TEM测试主要测什么？

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铄思百检测TEM可检测的项目有：

可测试TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS点扫/微区、EELS点或线或面扫、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)

三、在铄思百检测做TEM测试对样品有以下几点要求:

(1)粉末、液体样品均可，固体样品太大了的需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样

⑵样品必须很薄，使电子束能够穿透，一般厚度为100~200nm左右;

⑶样品需置于直径为2~3mm的铜制载网上，网上附有支持膜;

(4)样品应有足够的强度和稳定性，在电子线照射下不至于损坏或发生变化;

(5)样品及其周围应非常清洁，以免污染。

四、高分辨透射电镜（TEM)常见问题解答

① TEM制样方法分类？

粉末样品：直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察；或进行树脂包埋，超薄切片后，转移铜网上进行制样；

型技术：常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；

化学减薄/双喷减薄：对于大部分金属样品，可以进行化学减薄或双喷减薄；

离子减薄：对于陶瓷或金属合金合物，无法电解腐蚀，只能用离子减薄；

聚焦离子束FIB：与电解双喷和离子减薄相比，可通过SEM在线观察下进行定点制样，获得更高质量的TEM样品；

② 碳管如何分散做TEM?

看碳管最好用微栅，由于碳膜与碳管反差太弱，用碳膜观察会很吃力。尤其是单壁管。另外注意不要将碳膜伸进去捞，(这样会两面沾上样品，聚不好焦)样品可以滴、涂、抹、沾在有碳膜的面上，表面张力过大容易使碳膜撑破。

③ 透射电镜的金属样品怎么做?

包括金属切片、砂纸打磨、冲圆片、凹坑研磨、双喷电解和离子减薄、FIB制样(块体样品的制样神器)。

④ TEM和STEM图像的差别?

TEM成像：照明平行束、成像相干性、结果同时性、衬度随样品厚度和欠焦量发生反转。由于所收集到散射界面上更多的透过电子，像的衬度更好!

STEM成像：照明会聚束、成像非相干、结果累加性，在完全非相干接收情况下像的衬度不随样品厚度和欠焦量反转，可对更厚一点的样品成像。

⑤ 标尺大小怎么写?

标尺只能用1、2、5这几个数比如1、2、5、10、20、50、100、200、500，没有用其他的。

⑥ 什么是明场和暗场？

通常，我们说的明场和暗场特指TEM模式下的明场像和STEM模式下的HADDF像，这两种像用的最多。TEM模式下，取决于物镜光阑使用的成像电子束是透射束还是衍射束，以及相对于中心的位置情况，简单理解一下，场是明亮的叫做明场，即样品为黑背景为白。而对于STEM模式下的HADDF像是由于接收到高角度的环形电子束成像所致，简单理解是对重原子元素敏感的暗场像，样品原子序数越大越亮，越小越黑，背景为黑。

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