【图文】激光图像粒度分析检测仪维修测量过程中断维修
激光图像粒度分析检测仪维修测量过程中断维修为达到刮刀平直度指标，有些生产商把刀口磨成与刀身垂直的小平面。这种刀虽然平直度达到指标，但检测中只有刀口完全垂直时能刮墨，其他角度均不适用，严重时根本刮不净槽两边平面上的油墨，也就是那种“满堂红”刮刀。使用这种刮刀无法得到准确的检测结果。刮刀刮墨应是垂直握刀刮下，这只是目测垂直。具体操作中总有一定的误差，理想的刮刀边缘磨成15度弧线，以避免这种误差，一般来讲弧度越小，刀越锋利刮出的细度越低（细），反之亦然。油墨行业对刮板仪准确度要求甚高，而刮板和刮刀均会引起测量误差？如何能后到准确的检测结果？我们可以采用匹配法解决这一难题。微米数偏高的刮板与弧度偏小的刮刀匹配。微米数偏低的刮板与弧度偏大的刮刀匹配。
匹配后的刮板细度计与公司质检中心在国家计量检定所检定的刮板细度计对比校正，如果不合适更换刮刀或刮板直至合适为止。如具备磨刮刀技术，也可通过磨刮刀使对比的刮板细度计与标准乱板细度计细度值基本相同。所用工具器材的影响1.调墨刀调墨刀平面应光滑，用压延、抛光的，粗糙的刀表面会存留油墨，另外刀口磨成与刀平面成30～40度角，平直度≤1μm，这样的刀口才能在玻璃板上刮净油墨，每次擦时才能擦净。2.擦拭用品刮板仪每次用前要擦拭，操作中要擦拭，一般用软棉纱蘸少许溶剂，如果棉纱不干净，留下尘埃或掉毛都会影响检测结果，现有一种工业用纸，这种纸蘸溶剂擦拭可以避免这一问题。3．稀释用六号油六号油作为胶印油墨的稀释用油。
目前需采用滤纸过滤至细度≤7.5μm除去机械杂质。如果六号油仅因为稍有聚合而变粗，也可采用加热法达到细度要求，试想如果六号油本身就粗，那么您的油墨细度还好判断吗？您可以在工余时间准备出一小瓶备用。摘要：测量下限是光散射颗粒测试技术的重要指标。本文对颗粒散射光的光强分布进行了细致比较，对Mie散射向Rayleigh散射趋近的情况进行了分析，本文通过对Mie散射理论的深入研究和计算机模拟证实，对于氦氖激光，当测量粒径在0.2微米以下，Mie散射的解迅速趋近于Rayleigh散射的解，其光强分布函数变得简单，特别是在50纳米以下，我们无法用通常的静态光散射法从光强空间分布函数中提取足够的信息来计算颗粒直径。
本文的结果对各种光散射颗粒测试设备的研究有参考价值。关键词：颗粒；粒度；光散射；Mie理论；测量下限随着生产力的发展，科技的进步，人们希望准确测量更小的颗粒，对颗粒测试的下限提出了更高的要求。近几年出现了多种静态光散射仪器，测量下限差别很大。究竟静态光散射测量下限在那里？这是一个理论问题，也是一个人们十分关心的实际问题。静态光散射粒度分析，主要是依据不同大小颗粒的散射能量的空间分布（散射谱）的差异确定颗粒大小。如果散射谱的空间分布差异消失，则静态光散射将不能测量颗粒粒度，应代之以动态光散射或其他分析技术。Mie散射理论是颗粒光散射的基础理论，因此颗粒测量下限的确定，实质上决定于Mie散射理论能谱的研究。
本文以Mie理论为依据，通过理论分析和进行计算机模拟，确定测量下限的参考范围。1Mie散射基本公式Mie理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个介质球在单色平行光照射下的Maxwell方程边界条件的严格数学解。入射光为完全偏振光时（为散射角，为入射光振动面与散射面之间的夹角），垂直散射面的散射光强Ir和平行于散射面的散射光强Il以及总散射光强IS的表达式分别为：Ir=（1）Il=（2）Is=（3）其中：Is=Ir+Il,=,=、为散射振幅函数：=（4）=（5）式中an、bn为Mie散射系数，表达式为:（6）（7）m是颗粒折射率，a为颗粒尺寸参数:a=πD/λ（8）（9）z表示ma或a。
分别表示半整数阶的贝塞尔函数和第二类汉克尔函数。表示.和分别对各自变量的微商。式中πn、τn,为散射角函数，表达式为：（10）（cos（θ））是为一阶缔合勒让德函数。当颗粒直径远d小于入射光波长λ时，Mie散射为近似Rayleigh散射，其散射光强为：（11）2Mie散射与Rayleigh散射光分布图像形状的比较：通过散射光分布图像的形状来判断颗粒的直径是一种有效且易于操作的分辨方法，但是这种方法有一定的适用范围，只有在图像形状随粒径有明显变化时才能使用。首先我们把散射光强都进行了归一化处理，这样做可以排除散射光强度的影响，只关注散射光分布的图像的形状。为了便于讨论。
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